简要描述:紫外辐照计质控仪器LT2400紫外辐照计,ILT2400-UVC紫外线光度计,265 nm 峰值传感器,内置 UVC 带通滤波器和每个波长的扫描校准系统优势测量 230 - 280 nm 的杀菌 UVC 辐照度范围:100 nW/cm2 至 1 W/cm2 剂量范围:100 nJ/cm2 至数百万 mJ/cm2 ISO17025 认可的 NIST 可溯源校准 便携式手持系统 。
品牌 | 美国ILT | 产地 | 进口 |
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紫外辐照计质控仪器
紫外辐照计质控仪器
验证发射光的注量和注量率
辐照计/探头组合 | 响应波长频谱 | 测量范围 | 类型及应用 |
ILT5000, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-9 ~ 2 W/cm² | 台式,Photoresist光刻胶/光阻材料, |
ILT2400, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm² | 手持式,Photoresist光刻胶/光阻剂,同上 |
ILT1000/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm² | 手持式,Photoresist光刻/光阻剂, |
ILT1700, SED033/A/W | 320-475 nm | 7e-9 ~ 4 W/cm² | 台式,Photoresist光刻/光阻剂,同上 |
ILT2400, XSD140A | 320-475 nm | 4e-8 ~ 0.7 W/cm² | 手持式,Photoresist光刻/光阻剂, |
ILT2400, XSD340A | 320-475 nm | 8e-7 ~ 10 W/cm² | 同上,大功率高强度辐照探头 |
ILT5000, SED033/B/W | 326-401 nm | 3e-10 ~ 0.2 W/cm² | 台式,Photoresist光刻/光阻剂, |
ILT2400, SED033/B/W | 326-401 nm | 2e-8 ~ 0.2 W/cm² | 手持式,同上 |
ILT1700, SED033/B/W | 326-401 nm | 5e-9 ~ 0.5 W/cm² | 台式,同上 |
ILT1000/B/W | 326-401 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm² | 手持式,同上 |
ILT2400, XSD140B | 326-401 nm | 7e-8 ~ 1 W/cm² | 手持式,Photoresist光刻/光阻剂, |
ILT2400, XSD340B | 326-401 nm | 2e-6 ~ 30 W/cm² | 手持式,Photoresist光刻胶/光阻剂,高强度测量 |
ILT2400, SSD001 | 260-400 nm | 6e-6 ~ 0.9 W/cm² | 手持式,超薄传感器, |